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Struktur und Morphologie dünner CaF2-Schichten auf Si
Andreas Klust
ISBN 978-3-89722-620-3
173 Seiten, Erscheinungsjahr: 2001
Preis: 40.50 €
Keywords:
- CaF2
- Si
- Wachstumskinetik
- Grenzflächenstruktur
- Elektronenstimulierte Desorption
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